蔡司Xradia 610 & 620 Versa三維X射線顯微鏡在科研和工業研究領域為您開啟多樣化應用的新高度。基于高分辨率和襯度成像技術，Xradia 610 & 620 Versa 大大拓展了亞微米級無損成像的研究界限。采用光學加幾何兩級放大成像架構，可實現大樣品高分辨率成像。閃爍體和光學物鏡耦合技術可實現高襯度和增強的相位襯度成像。基于高分辨率和襯度，蔡司X射線顯微鏡 Xradia 600 系列 Versa 拓展了無損成像的研究界限，提高研究靈活性，加快研究進展。創新的數據采集工作流讓您無需對樣品進行切割即可實現對搜索合發現的感興趣區域進行高分辨成像。

產品特點：
1. 三維無損成像
2. 500 nm真實空間分辨率，40nm最小體素
3. 更快的成像速度
4. 大工作距離下高分辨率，可實現不同類型、尺寸樣品多尺度成像
5. 吸收、相位和衍射襯度成像模式
6. 4D 原位成像能力
7. 可升級、拓展和可靠性

應用領域：
1. 材料科學，如三維無損分析
2. 生命科學，如微觀結構成像
3. 地球科學，如地質、油氣、礦產、古生物等三維成像
4. 電子和半導體行業，如形貌測量及失效分析
5. 原位力學、變溫試驗
6. 衍射襯度成像，實現三維晶粒取向分析