蔡司三維X射線顯微鏡Xradia 510 Versa
蔡司三維X射線顯微鏡Xradia 510 Versa，憑借其突破性技術和高分辨率探測器,將3DX射線顯微鏡的性能提升至新的高度，為各種尺寸的樣品提供亞微米級成像解決方案。通過其優異的分辨率、襯度和靈活的工作距離以及原位/4D解決方案的強大組合，有力拓展了非破壞性的實驗室成像能力。創新的成像成都和圖像采集技術讓您能夠自由地定位于發現更多信息，進行深度探索，從而獲取新的發現。
產品特點:
1. 三維無損成像
2. 700 nm真實空間分辨率
3. 獨特的大工作距離下高分辨率，可實現不同類型、尺寸和類型樣品多尺度成像
4. 吸收、相位襯度成像模式
5. 4D 原位成像能力
6. 可升級、拓展和可靠性
應用領域:
1. 材料科學，如三維無損分析
2. 生命科學，如微觀結構成像
3. 地球科學，如地質、油氣、礦產、古生物等三維成像
4. 電子和半導體行業，如形貌測量及失效分析
5. 原位力學、變溫試驗
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