馬爾MarSurf XCR 20 粗糙度和輪廓測量儀
MarSurf XCR 20 粗糙度和輪廓測量站
這個綜合的測量站可在一臺測量站上同時執行表面粗糙度和
輪廓測量。
根據測量任務，可使用 GD 25 驅動裝置進行表面粗糙度測量，或使用 PCV 驅動裝置進行輪廓測量。
兩個測量系統通過組合支架固定到測量立柱。
- 節省空間型設計：兩個驅動裝置可使用相應的組裝支架安裝到 MarSurf ST 500 或 ST 750 測量立柱
- 一次測量即可完成粗糙度和輪廓評估
- 使用 MarSurf LD 130 / LD 260 測量系統對組件進行高精密度輪廓和粗糙度評估需要長行程和極高的分辨率
- 只需在軟件平臺內進行切換并更換驅動裝置和測頭等機械組件即可快速更換粗糙度和輪廓測量
- 技術參數：
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配置清單：
MarSurf XCR 20 包含計算機、MidRange Standard、MarSurf XCR 20 軟件、Mahr 許可密鑰
TFT 顯示器
MarSurf PCV 200 / MarSurf GD 25 驅動裝置
MarSurf ST 500 測量立柱包含組裝支架
校準套件，PGN-3
MCP 21 手動控制面板
CT 300 XY 工作臺
機器建造
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