CNAS認(rèn)證

期間核查的故事

蔡司的測(cè)量實(shí)驗(yàn)室最近終于獲得了CNAS的認(rèn)證，對(duì)于實(shí)驗(yàn)室的各項(xiàng)要求也要比以前高很多。其中就有一條，蔡司的實(shí)驗(yàn)室三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)必須定期進(jìn)行期間核查，來(lái)保證精度達(dá)標(biāo)。

對(duì)此蔡司有點(diǎn)煩惱，在CNAS認(rèn)證后對(duì)于精度校驗(yàn)的頻率要求高了，以前是一年一次校驗(yàn)就可以，現(xiàn)在實(shí)驗(yàn)室的機(jī)器需要一個(gè)季度進(jìn)行一次精度校驗(yàn)，而平時(shí)測(cè)量項(xiàng)目又比較多，如果每次找人上門校驗(yàn)的話，需要先走合同流程，再要和工程師約定上門時(shí)間，期間還要調(diào)整工作計(jì)劃，那是相當(dāng)?shù)穆闊?/span>

有沒(méi)有什么好辦法可以解決這個(gè)問(wèn)題？

校驗(yàn)頻次變高

測(cè)量項(xiàng)目多

上門校驗(yàn)流程繁復(fù)

怎么辦？？？

蔡司突然發(fā)現(xiàn)CMM CHECK裝置對(duì)于他們而言是一個(gè)非常好的選擇。

借助CMM Check可以判定蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是否達(dá)到DIN EN ISO10360 及VDI/VDE2617 規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)。它的主要用途包括：

蔡司三坐標(biāo)功能

檢查三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)探頭系統(tǒng)的探測(cè)性能

檢查三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)探頭系統(tǒng)的掃描性能

檢查形狀測(cè)量時(shí)的過(guò)濾特性

檢查三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的線性測(cè)量誤差

檢查帶轉(zhuǎn)臺(tái)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的4軸誤差

根據(jù)DIN EN ISO 10360第4頁(yè)和第5頁(yè)確定探測(cè)誤差的探測(cè)點(diǎn)分布

組成

50mm直徑的環(huán)規(guī)

30mm直徑的陶瓷標(biāo)準(zhǔn)球

帶有10μm和250μm平剖面的

高精度圓柱體—切口柱

長(zhǎng)度分別為50mm和400mm的塊規(guī)

兩個(gè)30mm 直徑的陶瓷標(biāo)準(zhǔn)球（選項(xiàng)）

蔡司如何使用這套裝置是來(lái)進(jìn)行設(shè)備自檢的呢？

根據(jù)DIN EN ISO的相關(guān)規(guī)定，借助CMM Check實(shí)現(xiàn)以下自檢項(xiàng)目：

通過(guò)CMM Check上長(zhǎng)度分為為50mm和400mm的兩個(gè)量塊，來(lái)檢查機(jī)器的MPE-E 和E0（俗稱機(jī)器的線性及空間和重復(fù)性）ISO 10360-2；

環(huán)規(guī)用來(lái)檢查機(jī)器的掃描誤差ISO 12181；

標(biāo)準(zhǔn)球用來(lái)檢查探頭的探測(cè)誤差及掃描誤差，也就是MPE-P（球上打25 個(gè)點(diǎn)算最大最小半徑差）&MPE-THP（掃描四條線，算最大與最小的半徑差）ISO 10360-4；

圓柱用來(lái)檢查機(jī)器的濾波功能，上面有兩個(gè)豁口，此豁口有在選用15&50&150&500 的濾波時(shí)有不同的值。

選配的兩個(gè)球是用來(lái)檢查機(jī)器轉(zhuǎn)臺(tái)的精度是否符合精度要求。MPE-FR 為徑向跳動(dòng)，MPE-FA 為軸向跳動(dòng)，MPE-FT 為角向偏差，ISO 10360-3

另外CMM CHECK可配備全球認(rèn)可的DAKKS校準(zhǔn)證書(shū)，可追溯到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量值。

配了此裝置之后，蔡司可以在實(shí)驗(yàn)室自行對(duì)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)進(jìn)行精度校準(zhǔn)，這樣不僅大大提高了工作效率，時(shí)間上也可以自由安排。而當(dāng)測(cè)量產(chǎn)品結(jié)果出現(xiàn)和供應(yīng)商的質(zhì)量數(shù)據(jù)有差異的時(shí)候，首先也可以排除設(shè)備自身精度對(duì)質(zhì)量結(jié)果的影響，能更加快速的找到問(wèn)題的所在之處。

蔡司工業(yè)質(zhì)量解決方案

蔡司CMM Check裝置，三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)系統(tǒng)的診斷器，借助它可以判定蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是否達(dá)到DIN EN ISO10360及VDI/VDE2617規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)。