蔡司三坐標的測量機使用方法
蔡司三坐標測量機的簡稱，自1960年代中期第一臺坐標測量機問世以來，隨著計算機技術的進步和電子控制系統，檢測技術的發展，為測量機向高精度，高速化的發展方向提供了強大的支持。技術支援。
蔡司三坐標可以分為接觸式測量和非接觸式測量以及接觸式和非接觸式測量。接觸測量通常用于測量機加工產品和壓制產品，金屬膜等。本文以接觸測量機為例，說明幾種掃描物體表面以獲得數據點的方法。數據點的結果可用于處理數據分析，也可為逆向工程技術提供原始信息。掃描是指借助于測量儀的應用軟件來獲取被測物體表面特定區域中的數據點。該區域可以是直線，表面，零件的一部分，零件的曲線或距邊緣一定距離的周邊。 SCAN的類型取決于測量模式，探頭的類型和CAD文件的存在。狀態按鈕（手動/ DCC）確定屏幕上可用的“掃描”選項。外圍掃描通常用于使用DCC進行測量并確保CAD文件可用。這些是“ OPEN LINEAR”，“ CLOSED LINEAR”，“ PATCH”，“ SECTION”和“ PERIMETER”掃描。如果使用DCC，并且僅線框CAD文件可用，則可以使用“開放線性”，“封閉線性”和“面片”掃描方法。如果使用手動測量模式，則只能使用基本的“手動TTP掃描”模式。如果探針在手動測量模式下是剛性的，則選項為“固定增量”，“可變增量”，“時間增量”和“身體軸掃描”。
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