測頭作為測量傳感器，是坐標(biāo)測量系統(tǒng)中非常重要的部件。三坐標(biāo)測量機的工作效率、精度與測頭密切相關(guān)。就測頭結(jié)構(gòu)原理來說，測頭可分為接觸式【觸發(fā)式】和非接觸式兩大類。觸發(fā)式測量頭又分為機械接觸式測頭和感應(yīng)式測頭；非接觸式測頭則包括光學(xué)顯微鏡、電視掃描頭及激光掃描頭等。

蔡司三坐標(biāo)掃描探頭和探頭座：

VAST XXT、RDS、ViScan、LineScan、EagleEye navigator、RST-P、VAST XT gold、ROTOS、FalconEye、XDT、CSC、ROTOS等。

用于采集自由曲面的光學(xué)式探頭——ZEISS DotScan

ZEISS DotScan是測量自由曲面和細微結(jié)構(gòu)的不二選擇，ZEISS DotScan采用色階共聚焦白光探頭，特別適用于測量敏感、柔軟、具反射性或低對比度的表面，因為對于這類表面，探針或相機傳感器已超過其能力所及。使用ZEISS DotScan時，具高反射性的表面如膝關(guān)節(jié)植物的金屬部件無須注入造影劑，即可進行掃描。因此，使用此探頭也能區(qū)分透明上漆表層和其下方的金屬層。

用途多樣靈活

ZEISS DotScan共有三種探頭尺寸，適用于三種不同的測量范圍：10、 3和1 mm。蔡司測頭可在一次CNC運行期間全自動更換，以適用于不同的表面，或改換其他光學(xué)探頭。

關(guān)節(jié)軸每次可移動2.5度，可將ZEISS DotScan調(diào)整到垂直于待測量部件。且由于ZEISS DotScan 1 mm的測量角度是+/- 30度，因此更大曲率的部件也能測量，再加上探針的操作模式，使得各種材料都能毫無問題地從各種角度進行測量，配合使用轉(zhuǎn)臺，甚至連4軸的測量工作也難不倒ZEISS DotScan。

邁向主動式掃描技術(shù)——VAST XT gold

在所有需要大型測針配置和高精度表現(xiàn)的測量應(yīng)用中，VAST主動式探頭系列扮演了至關(guān)重要的角色。VAST XT gold奠定了主動式掃描技術(shù)的基礎(chǔ)。

額外的測量系統(tǒng)

VAST XT gold額外配備了一套測量系統(tǒng)。測量力可根據(jù)測量任務(wù)進行配置，其也可用于一系列的修正程序。

除了主動式掃描，此探頭也支持單點測量：例如，VAST XT Gold讓您能靈活使用復(fù)雜的測針配置并提供了自動定心功能。

一個探頭，多項應(yīng)用

憑借其高速掃描的能力，VAST XT gold可勝任任何任務(wù)：形狀和位罟的測量、曲線和自由曲面的測量，以及逆向工程。應(yīng)用范圍涵蓋塑料加工零件、泡沫塑料、制動零件、曲柄軸、發(fā)動機和渦輪葉片。

三坐標(biāo)測量機 接觸式掃描探頭 ZEISS VAST XXT 蔡司三坐標(biāo)探頭

三次元測量儀 光學(xué)式掃描探頭 ZEISS ViScan蔡司三次元探頭

三坐標(biāo)測量機 光學(xué)式掃描探頭 ZEISS LineScan蔡司三坐標(biāo)探頭

三坐標(biāo)測量機 光學(xué)式掃描探頭 ZEISS EagleEye navigator蔡司三坐標(biāo)

三坐標(biāo)測量機 接觸式掃描探頭 ZEISS RST-P蔡司三坐標(biāo)探頭

三坐標(biāo)測量機 接觸式掃描探頭 ZEISS ROTOS蔡司三坐標(biāo)粗糙度測量

三次元測量儀 光學(xué)式掃描探頭 ZEISS FalconEye蔡司三次元探頭

三次元測量儀 接觸式掃描探頭 ZEISS XDT蔡司三次元探頭

三次元測量儀 三次元探頭座 ZEISS CSC蔡司三次元關(guān)節(jié)式探頭座

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